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SN74ABT18245ADLR

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Texas Instruments

IC SCAN-TEST-DEV/TXRX 56-SSOP

비준수

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이름
제품 상태 Active
논리 유형 Scan Test Device with Bus Transceivers
공급 전압 4.5V ~ 5.5V
비트 수 18
작동 온도 -40°C ~ 85°C
장착 유형 Surface Mount
패키지 / 케이스 56-BSSOP (0.295", 7.50mm Width)
공급업체 장치 패키지 56-SSOP
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