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SN74BCT8245ADWR

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Texas Instruments

IC SCAN TEST DEVICE TXRX 24-SOIC

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이름
제품 상태 Active
논리 유형 Scan Test Device with Bus Transceivers
공급 전압 4.5V ~ 5.5V
비트 수 8
작동 온도 0°C ~ 70°C
장착 유형 Surface Mount
패키지 / 케이스 24-SOIC (0.295", 7.50mm Width)
공급업체 장치 패키지 24-SOIC
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