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SN74BCT8374ADWR

제조업체 부품 번호:SN74BCT8374ADWR

제조업체:Texas Instruments

설명:IC SCAN TEST DEVICE W/FF 24-SOIC

데이터 시트:SN74BCT8374ADWR 데이터 시트

RoHs 상태:compliant

수량	단가	추가 가격
1	$0.00000	$0
500	$0	$0
1000	$0	$0
1500	$0	$0
2000	$0	$0
2500	$0	$0

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명세서
데이터 시트

이름	값
제품 상태	Obsolete
논리 유형	Scan Test Device with D-Type Edge-Triggered Flip-Flops
공급 전압	4.5V ~ 5.5V
비트 수	8
작동 온도	0°C ~ 70°C
장착 유형	Surface Mount
패키지 / 케이스	24-SOIC (0.295", 7.50mm Width)
공급업체 장치 패키지	24-SOIC

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